1、加速电压：50～300 kV 2、分辨率：  点分辨率：0.20 nm  线分辨率：0.102 nm  信息分辨率：0.14 nm 3、放大倍数：60～1,000,000 4、扫描透射（STEM）：  分辨率：0.16 nm  放大倍数：150X～230MX 5、能谱仪：  分辨率：优于136 eV  分辨元素范围：5B～92U

Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜是一个真正多功能，多用户环境的300 kV场发射透射电子显微镜，它将各种透射电镜技术，包括CTEM、SAED、STEM、EDX有机组合，形成强大的分析功能，可在原子尺度上提供纳米材料的内部结构、电子结构及化学环境等信息，同时可对材料组成元素进行线分布和面分布分析，获得高空间分辨率的定性、定量信息，可对各种固态样品表面形貌的观察，获得表面形貌的二次电子像、背散射电子像。主要用于无机材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。

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