半导体参数测试系统
半导体参数测试系统
负责人员
陈莉, 王天娆
存放地址
主校区机械学院2号楼109
联系电话
0411-84707713-8102/8112
送样
仪器编号
20035944
规格
4200－SMU
生产厂家
keithley(微系统中心)
型号
4200－SMU
制造国家
美国
分类号
03190442
出厂日期
2020-07-21
购置日期
2003-12-31
入网日期
2020-07-21
主要规格及技术指标

样品最大直径：6英寸
样品台移动范围：101.6mm×101.6mm
电流范围100mA时，测量分辨率100 nA；电流范围10mA时，测量分辨率10 nA；电流范围1mA时，测量分辨率1nA

主要功能及特色

获得样品的I-V曲线，可测量薄膜材料、块材，以及测量各种晶体管特性。

主要附件及配置

无
暂无关联门禁
暂无收费信息