Fluo Time 200的主要技术指标包括：

‌测量波长范围‌：185-870nm
‌测量寿命范围‌：100ps-50us
‌波长精度‌：±0.2nm
‌信噪比‌：>6000:1‌

飞秒单光子瞬态荧光测试
‌荧光寿命成像（FLIM）‌：通过超快脉冲激光激发样品荧光，扫描方式采集所有点的时间分辨荧光衰减曲线，直观展示样品发光寿命长短及其空间分布‌
‌荧光衰减测量‌：利用单光子计数器快速采集时间分辨荧光光谱或荧光衰减曲线，适用于各种荧光材料的寿命测量‌
操作界面和用户体验
Fluo Time 200的操作界面友好，支持多种关联技术联用，如拉曼、AFM或SNOM等，能够深入挖掘样品结构与性能的内在关系‌。此外，该设备还具有高集成度、低功耗和高性价比的特点，适合在高性能需求下使用‌

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