霍尔效应测试系统
霍尔效应测试系统
负责人员
刘晓英
存放地址
主校区厚义楼(材料系楼)主校区厚义楼(材料系楼)材料学院117房间
联系电话
13478973166
仪器编号
20239444
规格
HET-3RT
生产厂家
武汉嘉仪通科技有限公司
型号
HET-3RT
制造国家
中国
分类号
0314071001
出厂日期
2023-11-07
购置日期
2023-11-07
入网日期
2024-02-18
主要规格及技术指标

1.温度范围:室温
2.磁场感应强度:0.6T
3.电阻率范围:10- 6 -107Ω•cm
4.霍尔系数范围:10-3-109cm3/C
5.迁移率范围:1-107cm2/(V•s)
6.载流子浓度范围:107-1021/cm3
7.样品尺寸:边长或直径:10mm-20mm;厚度:10nm-1mm

主要功能及特色

HET-3RT依据范德堡法则,测量材料的电运输性能、主要参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)。

主要附件及配置

1.主机
2.数据显示操作平台
3.专业控制软件
4.装样样品卡

暂无关联门禁
暂无收费信息