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主要规格及技术指标
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1. 迁移率范围:1 to 1 × 10(6 )cm2/V s |
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主要功能及特色
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美国lake shore公司生产的霍尔效应测量系统,测量数据稳定可靠,在热电材料研究领域得到广泛认可。该设备可对各类半导体材料、ZnO,TiO2、ITO等氧化物半导体薄膜材料、热电材料、等进行霍尔测试。测量半导体材料的掺杂级别和类型,载流子浓度,迁移率,测量半导体材料的电阻率及上述参数随温度的变化情况 |
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主要附件及配置
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无 |