原位探针平台磁光克尔显微系统
原位探针平台磁光克尔显微系统
负责人员
王译, 孟凡毓
存放地址
主校区-厚望楼（机械2号楼）-108
联系电话
13591350249
仪器编号
20238894
规格
TTT-02-Kerr Microscope-H
生产厂家
托托科技(新加坡)有限公司
型号
TTT-02-Kerr Microscope-H
制造国家
中国
分类号
03140753
出厂日期
2022-06-24
购置日期
2022-06-24
入网日期
2024-02-18
主要规格及技术指标

垂直磁场14000Oe，水平磁场7000 Oe，显微镜50X，100X，分辨率1微米

主要功能及特色

1.对面内和面外磁晶各项异性的薄膜进行磁光克尔信号的测量2.拥有电输运套件可供进行磁矩翻转的各项测试

主要附件及配置

无
暂无关联门禁
暂无收费信息