多光束激光干涉测量系统
多光束激光干涉测量系统
负责人员
王智
存放地址
主校区-知方楼(新校区机械学院大楼)-2108
联系电话
13019459616
仪器编号
20240462
规格
XM-60
生产厂家
英国RENISHAW
型号
XM-60
制造国家
中国
分类号
0301054902
出厂日期
2024-05-08
购置日期
2023-12-18
入网日期
2024-05-08
主要规格及技术指标

测量系统/XM60/±0.5ppm

主要功能及特色

线性定位:
测量精度:±0.5ppm:
测量范围:0m至8m;轴向量程:0m至8m
分辨率:1nm。
直线度:
测量范围:士50μm时:精度士0.01A±1.0μm;
测量范围:士250um时:精度士0.01A±1.5um;
分辨率0.25um。轴向量程:0m至6m角度(俯仰 Pitch/扭摆 Yaw):
测量精度±0.004A/±(0.5 微弧度+0.11M 微弧度);测量范围:士500微弧度:轴向量程:0m至8m
分辨率:0.03 微弧度
滚摆:
轴向量程 0-4m时测量精度:土0.01A6.3微弧度;轴向量程 4-6m时测量精度:士0.01A士10.0微弧度测量范围:士500 微弧度:分辨率:0.12微弧度。

主要附件及配置

暂无关联门禁
暂无收费信息