主要规格及技术指标
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380V50Hz9KW,Cu靶,室温-1000oC,测量范围5-158度半导体阵列探测器D/texUltra250(SmartLab) |
主要功能及特色
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物相分析:进行晶体材料的定性与定量分析。结构精修:通过Rietveld方法进行晶体结构精修。高温原位分析:实时监测材料在高温下的相变。残余应力分析:测定材料内部的残余应力。薄膜分析:对薄膜材料进行物相鉴定。电池材料分析:研究电池材料充放电过程中的物相变化 |
主要附件及配置
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无 |