主要规格及技术指标
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分辨率:≤1.0 nm @ 15 kV,SE;≤1.5 nm @ 1 kV,SE; |
主要功能及特色
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测试固体、粉末样品表面形貌的高分辨成像及元素组成,可测试背散射图像,同时对磁性样品友好,可对磁性样品进行高分辨成像。 |
主要附件及配置
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无 |