主要规格及技术指标
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1. 扫描头移动范围:水平位移5mmx5mm;垂直位移10mm;2.扫描头分辨率:横向0.1nm,纵向0.1nm;可获得单晶Si(111)样品的原子分辨图像; 3.配置电子学控制器,实现扫描和作谱功能。 |
主要功能及特色
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无 |
主要附件及配置
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无 |