低温集成电路可靠性测试系统
低温集成电路可靠性测试系统
负责人员
常玉春, 钟国强
存放地址
开发区校区开发区信息楼111()
联系电话
13180826212
仪器编号
2024D25C
规格
SCG-C-4-D
生产厂家
森美协尔
型号
SCG-C-4-D
制造国家
中国
分类号
03190442
出厂日期
2024-12-27
购置日期
2023-08-09
入网日期
2024-12-27
主要规格及技术指标

温控系统温度范围:10K~450K;
六个探针臂X-Y-Z 3轴行程不小于50mm-50mm-25mm;
视频显微系统分辨率1920*1080,帧率60fps
直流信号电流测量最小分辨率≤0.02fA;直流信号电压输出分辨率≤6μV;
多通道混合信号采集分析模组最高实施采样率50GS/s,模拟带宽所有通道不小于10GHz;
芯片辐射性测试系统频率范围3Hz~9GHz;
高速记录装置200MS/s采样率;
环境试验装置内箱尺寸500mm(W)×600mm(H)×500mm(D),温度范围-70℃~150℃

主要功能及特色

测量器件、芯片、系统在极低温度下电学参数

主要附件及配置

混合示波器MSO66,高速数据记录仪MR6000,电磁兼容EMI测试仪4082E,半导体综合测试仪4200A,显微镜BX53M,高低温试验箱HHB150

暂无关联门禁
暂无收费信息