1. 采用高分辨硬X射线罗兰圆单色器系统，XAFS覆盖能量范围：5-12 keV，最高可扩展到19 keV。
2. 具备XES测量功能，XES能量分辨率为1.0-1.5 eV（7-9 keV）。
3. XES重复性：<25 meV 能量尺度漂移，无需进行多次单色校正。
4. 球形弯曲晶体Si/Ge的Bragg角范围55º-85º。
5. XAFS功能的最大加速电压为40 kV，最大电流为30 mA。
6. X射线吸收谱仪能量分辨率0.5-1.5 eV (7-9 keV)。
7. 配备2套1.2 kW XRD型X射线源和2套100 W XRF型X射线源
8. XAFS重复性：< 50 meV 能量尺度漂移，无需重复的单色仪校准
9. 检测器处有效光子计数率：300,000-500,000 photos/s/eV（7-9 keV）
10. 具用氦气保护装置，用以减少X射线传输路径中的损失，惰性气体容积为0.3 m3
11. 配备7块Johann型球形弯曲（Si或Ge）晶体，曲率半径为0.5 m。
12. 高能量分辨率的硅漂移检测器（SDD），有效面积150 mm2。
13. 机械调节可实现0.1 eV最小步长系统。
14. 配置防护罩，钢制辐射外壳，周围环境辐射剂量小于1 uSv/h。
15. XAFS具备8位自动样品轮，全集成至软件系统，通过程序控制，实现样品切换功能。
16. XES模式具有电动对准台，用于光谱仪入口狭缝后的校准，且具备多位自动样品轮，样品切换功能，通过程序控制，实现样品切换功能。
17. 采用自主研发的基于Python的软件操作系统，用于单色器校正，日常运转和测试。
18. 通过程序控制，实现样品切换功能，从而实现过夜测试需求。

台式原位X射线吸收谱仪(XAFS)无需同步辐射光源，可以在实验室内完成材料X射线吸收精细结构的测试，并对元素价态、配位结构、原子配位数、原子间键长等信息进行测定表征。广泛应用于环境、催化、材料、地质、化工等领域。

1. 高分辨硬X射线单色器系统 (包括X射线源和样品固定的配件和机械系统以及操作手册)，Bragg角范围55º-85º。
2. 提供高能量分辨率的硅漂移检测器（SDD），有效面积150 mm2。
3. 7块曲率半径为50 cm的球面晶体（Si/Ge）。
4. 配备多维高精度步进电机。
5. 标配2支1.2 kW XRD型X射线管（Mo或Ag）和2支100 W XRF型X射线管（W 或Pd）。
6. 提供XES模块高压电源及相关线缆。
7. 提供XES自动校准和换样器。
8. 配置高压电源，USB界面，独立水冷机及各组件独立控制器以及防辐射安全控件。
9. 配有Kapton窗口的铝制氦气通路。
10. 基于Python的控制及数据采集软件，及所有必要的配件，如电源及与控制电脑相连的线缆等。
11. 配备防护罩。钢制辐射外壳，包含状态指示灯，安全标志，多位点安全锁，可锁定脚轮，为电源和检测器提供下机架。
12. 提供8位自动样品轮，全集成至软件系统，软件程序控制。