主要规格及技术指标
|
1、配备高真空模式二次电子检测器、低真空模式气体二次电子探头、环境真空模式气体二次电子探头、定向背散射电子检测器及GAD探测器等;2、二次电子分辨率:高真空模式1.0 nm (30 kV), 低真空模式 1.3 nm (30 kV), 环境真空模式1.3 nm (30 kV);3、加速电压 0.2 kV~30 kV,放大倍数X6~X2500000;4、配备Oxford UltimMax40 EDS探头和Symmetry S3 EBSD探头;5、安装原位帕尔帖冷台、原位力学台。 |
主要功能及特色
|
1、具有环境真空模式(ESEM),低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积;2、安装原位帕尔帖冷台,可在-50 °C 到 100 °C 温度范围内进行原位分析;3、安装Kammrath Weiss 5 kN原位力学台,可实现最大载荷5000 N、最高加热温度1200 °C原位拉伸测试。 |
主要附件及配置
|
无 |