材料型冷冻透射电镜
材料型冷冻透射电镜
负责人员
高晓霞, 谢红波, 焦文娜, 林华, 赵凯
存放地址
知远楼C108
联系电话
0411-84706593
仪器编号
待建账-0040
规格
JEM-F200(CF-CR)
生产厂家
日本 电子株式会社
型号
JEM-F200(CF-CR)
制造国家
日本
分类号
03040701
出厂日期
1970-01-01
购置日期
2022-12-30
入网日期
2025-03-05
主要规格及技术指标

1. 电子枪类型:高亮度冷场发射电子枪 2. TEM分辨率:点分辨率:0.27nm@200 KV;线分辨率:0.14nm@200 KV;信息分辨率:0.13 nm@200KV; 3.加速电压:20-200KV; 4. STEM分辨率:明场分辨率:0.19nm@200KV;暗场分辨率:0.19nm@200KV;HAADF分辨率:0.19nm@200KV; 5. 具有三维重构系统;配备有单倾杆一根,双倾杆一根,冷冻样品杆一根。

主要功能及特色

"
1. 高分辨率成像

配备先进的电子光学系统,可在冷冻条件下实现原子级分辨率成像,适用于观察纳米材料、晶体结构及生物大分子的精细结构。

2.冷冻样品分析

支持冷冻样品台(Cryo-Holder),可在低温(液氮温度,约-196°C)下观察样品,有效减少电子束对样品的损伤,特别适合对电子束敏感的样品(如生物大分子、软材料等)。

3. 多种成像模式

支持多种成像模式,包括高分辨透射成像(HRTEM)、扫描透射成像(STEM)、衍射成像(SAED)等,满足不同研究需求。

4. 元素分析与成分表征

配备能谱仪(EDS),可进行元素成分分析,结合STEM模式实现纳米尺度下的元素分布 mapping。

5. 三维重构

支持电子断层扫描(Tomography),通过多角度成像实现样品的三维结构重构,适用于复杂材料结构和生物大分子的研究。

6. 低剂量成像

采用低剂量电子束技术,减少电子束对样品的损伤,特别适合观察易受辐射损伤的样品. 7.冷场发射电子枪(CFEG)

采用冷场发射电子枪,提供高亮度、高相干性的电子束,显著提升成像分辨率和信噪比。"

主要附件及配置

1. 配有冷冻样品杆2. 配有三维重构系统

知远楼 透射电镜、三维原子探针 C106
暂无收费信息