聚焦离子束扫描-飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)联用仪
聚焦离子束扫描-飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)联用仪
负责人员
万鹏, 高晓霞, 周雨萌, 谢红波, 焦文娜, 计璠, 赵凯
存放地址
知远楼C104
联系电话
0411-84709167
仪器编号
待建账-0043
规格
Solaris
生产厂家
泰斯肯
型号
Solaris
制造国家
捷克
分类号
03030706
出厂日期
1970-01-01
购置日期
2022-12-30
入网日期
2025-03-19
主要规格及技术指标

"肖特基(Schottky)型热场发射电子源,采用 TriLens 三物镜设计,可提供超高分辨模式,无漏磁分析模式和电子東无交叉模式;二次电子像分辨率(SE)≤0.6nm(15kV),0.9nm(1kV);4)背散射电子像分辨率(BSE)≤1.6nm(15kV);5)扫描透射分辨率(STEM)≤0.5nm(30kV);加速电压:调整范围:0.05-30kV,调整步长≤100V;束流强度可至2pA to400nA;8)放大倍数范围: 5-2,000,000倍,粗、细调模式连续可调;9)扫描速度20ns-10ms/pixel多档可选,可实现全帧、选区、定点、线扫描;离子束技术参数
1)离子源种类:液态金属Ga离子源;离子本图像分辨率:<2.5nm@ 30kV(东流交叉点位置)3)加速电压:0.5kV-30kV或更宽,连续可调;样品室内红外CCD相机,分辨率不小于720x540;飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS);质谱分辨率≥800;质谱检出限≤3ppm;空间分辨率水平方向≤40nm;空间分辨率垂直方向≤3nm。"

主要功能及特色

主要功能有 TEM 及 APT 高质量定点制样、高精度微纳加工等,可实现FIB-TOF-SIMS 联用

主要附件及配置

知远楼 双束显微镜室 C104
暂无收费信息