主要规格及技术指标
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"1. 温度范围: 室温-1273 K; |
主要功能及特色
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该设备可对各类半导体材料进行霍尔测试,测量半导体材料在不同温度下的掺杂级别和类型、载流子浓度、迁移率和电阻率。 |
主要附件及配置
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无 |