二维面探测器；
X-射线光源：双光源系统；
测角仪部分：可自动调整晶体位置（对中），通过X射线自动扫描确定最佳晶体测量位置：
X射线光学系统：背靠背多层膜聚焦反射镜：镜子采用真空密封，无需持续通气，并带真空度传感器

通过测定晶体结构，可以获得有关键长、键角、扭角、分子结构和构象等大量微观信息并研究其规律

单晶衍射系统，一个或两个X射线源;探测系统
探测器：PHOTON100
X射线源：Sealed tube
IμS微聚焦源 可用波长：铜，钼