光源：
采用先进的陶瓷光管，具有质量好、寿命长、强度衰减小的特点。
测角仪：测角仪直径：401mm X光管类型：Cu靶，陶瓷X光管，功率：≥2.2kW
Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤40mA
扫描方式：/2测角仪，测角仪垂直放置
2转动范围：-110~168，测角范围：0.1-120°；
可读最小步长：0.0001
角度重现性：0.0001
驱动方式：步进马达驱动 + 光学编码器
最高角速度：30/s；
探测器：
林可斯阵列探测器：192个通道，动态范围：1 x 109 cps，最大计数：>4 x 107 cps，背景：低于0. 1 cps，能量分辨率：25%，探测效率：>98%。进行样品的快速测量。
其他：
外部体积：2035*1400*1260mm；
重量（不包含非强制的电子仪器）：550kg；
冷却水供应（不包含非强制的水冷器）：流速，4 l/min；压强,4-7.5bar( with no back pressure)；温度，10-20℃；
● 电源：单相，208-240V；三相，120V，230V,240V,47-63Hz；
● 最高电耗：6.5KV

晶体材料物相定性及定量分析，晶体的结晶度和点阵参数以及择优取向等。纳米物质晶粒大小测定倒易空间Map，晶片Mapping和极图（pole figure)，包括晶片极图，X-射线倒易空间极图和结晶学织构Maps的分析和表述；
粉末衍射(Power Diffraction, PD)：掠入射X射线衍射，2Theta扫描； Omega/2Theta扫描；
织构与应力：获得平行和垂直应力、驰豫的信息，以及组分、衍射角、晶面夹角和外延层晶格参数，并通过实验结果开速计算材料参数 应用范围：各种单晶、粉末晶体材料；各种薄膜材料（包括外延材料、多晶及各种无定形薄膜，单层、双层、周期多层膜、非周期多层膜）；
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无