1、元素分析范围：8O～92U
2、样品方式：
 置样方式：分析面向下
 样品旋转：.5 r•s-1
3、晶体选择：PX1、PE2、LiF2、Ge111、LiF22
4、测角仪：
 范围：°～148°（2θ）
 精确度：.25°（θ/2θ）
 重复性：.1°（θ/2θ）
5、探测器系统：
 探测器类型：流气式
 计数器窗口：1 μ聚丙烯薄膜

Axios系列具有很高的分析能力和很小的检修时间。其核心为帕纳科的SST-mAX型X射线光管，可以大大降低漂移校正和再校正测量的频率，使仪器稳定运行时间最大化。X射线荧光光谱法能分析8O～92U之间所有元素，样品可以是固体、粉末、熔融片、液体等。分析对象适用于冶金、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果。该方法具有快速准确，不破坏样品等优点，可以对样品局部进行最小到1** μm局部范围内元素定性和半定量无损分析，是进行试样常规无损检测最为理想实用的方法之一。

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